製作したトランスとチョークについて測定してみた。
トランスの方は、まぁ思った通りの結果だったが
チョークの方が散々。こりゃギャップ厚を間違ったか。
このまま使うと、多分ピーク電流付近で飽和してしまうだろう。
ギャップ厚を修正して再度トライせねば。
★トランス (値は全て150kHz時)
Np : 1次側巻線
Nr : 1次側リセット巻線
Ns : 2次側巻線
・測定時他巻線オープン
Np : 925uH , Q=63.0 , Rp=55.5kΩ
Nr : 1.15mH , Q=85.3 , Rp=92.9kΩ
Ns : 21.8mH , Q=200 , Rp=4.15MΩ
・測定時Ns巻線ショート(起動初期を想定)
Np : 24.9uH , Rp=101Ω
Nr : 17.5uH , Rp=79.2Ω
Ns : (ショート)
巻線間の寄生キャパシタンスも測定した。
測定ポイントによって20pF〜130pF付近となった。
詳細は割愛する。
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★チョーク (値は全て150kHz時)
L : 20.5mH (設計値:7.2mH)
Rp : 680kΩ
Q : 35.5
AL Value : 960nH/N^2 (設計値:340nH/N^2) ←ギャップが狭い。
当たり前と言えば当たり前だが、測定中にコアに触れると
インダクタンスが大きく変動(値が大きくなる)する。
磁気回路に指が入る事でAL-Valueが変化しているのだろう。
って事は周囲を巻くテープでも特性が変化するって事だな。
早速Gapを修正し、再測定した。
目論見ではテープ6層貼りで丁度良いはずだったが
インダクタンスが下がり過ぎたので5層とした。
目標値±10%以内に収まっているので、まずまずだろう。
★チョーク (値は全て150kHz時)
Gap : 0.05mmポリイミドテープ x5層
L : 7.82mH (設計値:7.2mH , +8.6%)
Rp : 198kΩ
Q : 26.8
AL Value : 367nH/N^2 (設計値:340nH/N^2)
NI Value : 109.5AT (0.75A Max)
あとは全体回路の決定と基板用ライブラリの作製だな。